射頻探針是我們在測試時不可少的工具，主要用于電子測試設(shè)備，對硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號進(jìn)行測量，還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。
在對待測電路進(jìn)行測試時，需要經(jīng)傳輸線向該待測電路發(fā)送信號。它至少需要兩種導(dǎo)體，一種為信號導(dǎo)體，另一種為接地導(dǎo)體。這些導(dǎo)體的結(jié)構(gòu)決定了待測電路測試所需的探針類型。探針結(jié)構(gòu)分為GS（接地-信號）、GSG（接地-信號-接地）以及GSSG（接地-信號-信號-接地）三種。常見的結(jié)構(gòu)類型為GSG，該結(jié)構(gòu)與共面波導(dǎo)類似。
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由于待測設(shè)備（DUT）的性質(zhì)和構(gòu)成非常敏感且通常較為精細(xì)，因此射頻電路的測量往往是一項棘手任務(wù)。高可靠性射頻測量中困擾最多的兩大問題是：頻率太高時，當(dāng)前測試設(shè)備無法進(jìn)行射頻能量的測量；當(dāng)待測電路對電氣環(huán)境中的微小變化敏感時，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動。這些問題可通過采用對待測電路的能量擾動盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。在射頻電路系統(tǒng)測試中，探針與測試設(shè)備的阻抗匹配對于能否實現(xiàn)有效的功率傳輸而言至關(guān)重要。
然而，隨著測試頻率越來越高，以及對測試誤差的要求越來越嚴(yán)格，上述阻抗匹配變得越來越困難。在射頻測試領(lǐng)域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對待接觸測試點、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。在不久的將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個信道的設(shè)計能力，以及同時覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。
根據(jù)待測電路用途的不同，建議使用工作頻率與該用途匹配的探針。一些型號的探針設(shè)計可支持高達(dá)110GHz的頻率。大多數(shù)射頻探針的阻抗為50歐姆，但是同時也存在針對高頻測試需求的高阻抗探針、差分探針及雙信號探針（SGS）。
