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    • HANWA HED-C5000R CDM測試設備
      HANWA HED-C5000R CDM測試設備

      CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備

      更新時間:2024-11-07型號:訪問量:1844
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    • 掃描電鏡
      掃描電鏡

      掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產品將場發射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。

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    • 芯片封裝焊接強度測試儀
      芯片封裝焊接強度測試儀

      芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

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    • 半導體場發射掃描電鏡
      半導體場發射掃描電鏡

      GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒,創下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節引擎是為方便您使用高分辨率成像 技術而特別定制的,即使要對敏感樣品進行超高分辨率的成像也是輕而易舉。 GeminiSEM 560 在任何工作條件下都能達到該系列的最高分辨率,突破了常規 浸沒式表面成像技術的上限。半導體場發射掃描電鏡

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    • 半導體光學/共聚焦顯微鏡
      半導體光學/共聚焦顯微鏡

      半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

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    • 德國進口晶圓光學檢測設備
      德國進口晶圓光學檢測設備

      德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。

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